Elektronen-Mikroskopie

Die Servicegruppe Elektronenmikroskopie ist Teil der Abteilung Innovative Elektronenmikroskopie. Sie stellt den täglichen Betrieb der Elektronenmikroskopie-Einrichtung sicher und bietet den Forschern am INM Serviceleistungen für ein breites Spektrum an Elektronenmikroskopiemethoden (von der Probenpräparation bis zur Bildanalyse) an einer Vielfalt von Proben (von metallografischen proben bis hin zu Hydrogelen). Das Team der Servicegruppe führt die Experimente durch, unterstützt die Forscher bei der Verwendung der Einrichtungsgeräte, bietet Trainings für Benutzer an, und berät zu den besten Praktiken für die Probenpräparation, Bildgebungstechniken und Bildverarbeitung bei der Elektronenmikroskopie.

Die Servicegruppe arbeitet eng mit verschiedenen Forschungsabteilungen des INM, Forschungsgruppen der Universität des Saarlandes und anderen Einrichtungen auf dem Campus zusammen. Die Servicegruppe ist auch an der Methodenentwicklung der Abteilung Innovative Elektronenmikroskopie beteiligt.

Anfragen Forschung
Prof. Dr. Nadezda Tarakina
Leiterin Innovative Elektronenmikroskopie
Telefon: +49 (0)681-9300-481
Anfragen Service
Birgit Nothdurft
Technische Mitarbeiterin
Telefon: +49 (0)681-9300-247
Anfragen Service
Aude Haettich
Technische Mitarbeiterin
Telefon: +49 (0)681-9300-135
Mitarbeiter
Telefon: +49 (0)681-9300-135
E-Mail: aude.haettich@leibniz-inm.de
Telefon: +49 (0)681-9300-247
E-Mail: birgit.nothdurft@leibniz-inm.de
Analysetechniken

Von der Servicegruppe Elektronenmikroskopie angebotene Analysetechniken:

  • Rasterelektronenmikroskopie
  • Environmental Rasterelektronenmikroskopie
  • Focused Ion Beam Mikroskopie und Tomografie
  • Konventionelle Transmissionselektronenmikroskopie
  • Kryotransmissionselektronenmikroskopie
  • Energiedispersive Röntgenspektroskopie
  • Elektronenrückstreubeugung
  • Elektronenenergieverlustspektroskopie
Probenpräparationstechniken
  • Ultramikrotomie
  • Kryo-Ultramikrotomie
  • Sputterbeschichtung
  • Plunge Freezing
  • Kritischer Punkttrocknung
  • TEM-Probenpräparation mittels Focused Ion Beam
  • TEM-Probenpräparation mittels Argon Ionenstrahl Polieren