Der Servicebereich Elektronen-Mikroskopie betreibt elektronenoptische und röntgenanalytische Verfahren für alle Programmbereiche des Hauses, für Arbeitsgruppen der Universität des Saarlandes und für externe Auftraggeber. Mikroskopische Untersuchungen bis in den Nanometerbereich werden mittels Transmissionselektronen- (TEM) und Rasterelektronenmikroskopie (REM) durchgeführt und mit lokaler Röntgenspektralanalyse (EDX) ergänzt. Ein Zweistrahlgerät (FIB) ermöglicht die Präparation dünner TEM-Lamellen vieler biologischer und materialwissenschaftlicher Materialien, die mit Hilfe einer Ionenmühle mit fokussiertem Argonionenstrahl (Nanomill) für atomare analytische Fragestellungen nachgedünnt werden können. Für spezielle elektronenmikroskopische Fragestellungen kommen Mikrotomie, elektrolytisches Dünnen, Ionenmühlen mit nicht-fokussiertem Ionenstrahl und Sputter- bzw. Bedampfungsanlagen zum Einsatz.
Mitarbeiter
Publikationen
Lehnert, Tobias | Adam, Jens | Drumm, Robert | Dietz, Jennifer | Veith, Michael
Ferroelectrics , 2011, 420 (1), 49-55.
http://dx.doi.org/10.1080/00150193.2011.594775
Aktas, Oral C. | Haidar, Ayman | Martinez Miró, Marina | Dörrschuck, Eva | Lee, Juseok | Veith, Michael | Abdul-Khaliq, Hashim
Advanced Materials Research , 2011, 324 105-108.
http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/AMR.324.105
Veith, Michael | Belot, Céline | Huch, Volker | Cui, Hailing | Guyard, Laurent | Knorr, Michael | Wickleder, Claudia
European Journal of Inorganic Chemistry , 2010, 2010 879-889.
http://dx.doi.org/10.1002/ejic.200900972
Ciana, Annarita | Meier, Katharina | Daum, Nicole | Gerbes, Stefan | Veith, Michael | Lehr, Claus-Michael | Minetti, Giampaolo
Cell Biology International , 2010, 34 669-678.
http://dx.doi.org/10.1042/CBI20090067
Zaharescu, Maria | Wittmar, Alexandra | Teodorescu, Valentin | Andronescu, Cristian | Wittmar, Matthias | Veith, Michael
Zeitschrift Für Anorganische Und Allgemeine Chemie , 2009, 635 1915-1924.
http://dx.doi.org/10.1002/zaac.200900186
Ehses, Markus | Veith, Michael
Higher Education in Europe , 2009, 34 (3-4), 367-384.
http://dx.doi.org/10.1080/03797720903355620
Lemloh, Marie-Louise
Key Engineering Materials , 0216, 672 40-46.
http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/KEM.672.40
Šiller, Lidija | Piticharoenphun, Sunthon | Lemloh, Marie-Louise | Horrocks, Benjamin R. | Kaulich, Burkhard | Gianoncelli, Alessandra | Hunt, Michael R. C. | Brümmer, Franz | Medakovi
Key Engineering Materials , 0216, 672 312-327.
http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/KEM.672.312
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