Professor Niels de Jonge wurde von der Microscopy Society of America geehrt



Für seine Publikation „The influence of beam broadening on the spatial resolution of Annular dark field scanning transmission electron microscopy” erhielt er den Best Software and Instrumentation Paper Award.

Der Physiker leitet am INM den Programmbereich Innovative Elektronenmikroskopie und hat an der Universität des Saarlandes eine Honorarprofessur für Physik inne. Die Elektronenmikroskopie wird häufig zur Untersuchung ultradünner Proben verwendet, aber viele relevante Proben sind mikrometerdick. In seiner Publikation beschreibt de Jonge, wie der Elektronenstrahl in der Dunkelfeld-Rastertransmissionselektronenmikroskopie für die Untersuchung solcher Proben optimiert werden kann und welchen Einfluss die Lage der Probe auf das Auflösungsvermögen der Elektronenmikroskopie hat.