Der Servicebereich Elektronen-Mikroskopie betreibt elektronenoptische und röntgenanalytische Verfahren für alle Programmbereiche des Hauses, für Arbeitsgruppen der Universität des Saarlandes und für externe Auftraggeber. Mikroskopische Untersuchungen bis in den Nanometerbereich werden mittels Transmissionselektronen- (TEM) und Rasterelektronenmikroskopie (REM) durchgeführt und mit lokaler Röntgenspektralanalyse (EDX) ergänzt. Ein Zweistrahlgerät (FIB) ermöglicht die Präparation dünner TEM-Lamellen vieler biologischer und materialwissenschaftlicher Materialien, die mit Hilfe einer Ionenmühle mit fokussiertem Argonionenstrahl (Nanomill) für atomare analytische Fragestellungen nachgedünnt werden können. Für spezielle elektronenmikroskopische Fragestellungen kommen Mikrotomie, elektrolytisches Dünnen, Ionenmühlen mit nicht-fokussiertem Ionenstrahl und Sputter- bzw. Bedampfungsanlagen zum Einsatz.
Mitarbeiter
Publikationen
Sierri, Giulia | Saenz-de-Santa-Maria, Ines | Renda, Antonio | Koch, Marcus | Sommi, Patrizia | Anselmi-Tamburini, Umberto | Mauri, Mario | D'Aloia, Alessia | Creiani, Michela | Salerno, Domenico | Mantegazza, Francesco | Zurzolo, Chiara | Re, Francesca
Nanoscale , 2024, 17 992-1006.
https://pubs.rsc.org/en/content/articlelanding/2024/nr/d4nr03174a
Thömmes, Anna-Lena | Büttner, Thomas | Morgenstern, Bernd | Janka, Oliver | Kickelbick, Guido | Niebuur, Bart-Jan | Kraus, Tobias | Gallei, Markus | Scheschkewitz, David
Angewandte Chemie International Edition , 2024, 63 (51), e202415103.
https://onlinelibrary.wiley.com/doi/10.1002/anie.202415103
Fehlberg, Maja | Monfort, Eva | Saikumar, Sairam | Drewing, Knut | Bennewitz, Roland
IEEE Transactions on Haptics , 2024, 17 (4), 957-963.
https://ieeexplore.ieee.org/document/10746609/keywords#keywords
Nebel, Vincent | Beran, Lisa | Königer, Veit | Haghipur, Amir | Mutz, Marcel | Taranovskyy, Andriy | Werth, Dirk | Knoblauch, Volker | Kraus, Tobias
Advanced Engineering Materials , 2024, xxx (xxx), xxx.
https://onlinelibrary.wiley.com/doi/10.1002/adem.202401540
Leiner, Regina | Witayakran, Suteera | Verwaayen, Sascha | Siegwardt, Lukas | Ribeiro, Cataina C. | Dietz, Christian | Koch, Marcus | Kulachenko, Artem | Gallei, Marcus
ACS Applied Materials & Interfaces , 2024, 16 (46),
https://pubs.acs.org/doi/10.1021/acsami.4c16816
Purbayanto, Muhammad A. K. | Presser, Volker | Skarzynski, Kacper | Sloma, Marcin | Naguib, Michael | Jastrzebska, Agnieszka M.
Advanced Functional Materials , 2024, xxx (xxx), 2409953.
https://onlinelibrary.wiley.com/doi/10.1002/adfm.202409953
Veith, Michael | Kirs, Tatjana | Morgenstern, Bernd | Huch, Volker
Zeitschrift Für Anorganische Und Allgemeine Chemie , 2024, 650 (20), e202400090.
https://onlinelibrary.wiley.com/doi/10.1002/zaac.202400090
Koch, Marcus | Silina, Yuliya E.
2024, 207 112091.
https://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S0026265X24022033?via%3Dihub
Dey, Sourik | Seyfert, Carsten E. | Fink-Straube, Claudia | Kany, Andreas Martin | Müller, Rolf | Sankaran, Shrikrishnan
Journal of biological Engineering , 2024, 18 (1), 66.
https://jbioleng.biomedcentral.com/articles/10.1186/s13036-024-00463-y
Van Impelen, David | González-García, Lola | Kraus, Tobias
Advanced Electronic Materials , 2024, xxx (xxx), 2400533.
https://onlinelibrary.wiley.com/doi/full/10.1002/aelm.202400533