Der Servicebereich Elektronen-Mikroskopie betreibt elektronenoptische und röntgenanalytische Verfahren für alle Programmbereiche des Hauses, für Arbeitsgruppen der Universität des Saarlandes und für externe Auftraggeber. Mikroskopische Untersuchungen bis in den Nanometerbereich werden mittels Transmissionselektronen- (TEM) und Rasterelektronenmikroskopie (REM) durchgeführt und mit lokaler Röntgenspektralanalyse (EDX) ergänzt. Ein Zweistrahlgerät (FIB) ermöglicht die Präparation dünner TEM-Lamellen vieler biologischer und materialwissenschaftlicher Materialien, die mit Hilfe einer Ionenmühle mit fokussiertem Argonionenstrahl (Nanomill) für atomare analytische Fragestellungen nachgedünnt werden können. Für spezielle elektronenmikroskopische Fragestellungen kommen Mikrotomie, elektrolytisches Dünnen, Ionenmühlen mit nicht-fokussiertem Ionenstrahl und Sputter- bzw. Bedampfungsanlagen zum Einsatz.
Mitarbeiter
Publikationen
Beran, Lisa | Knapp, Tobias V. | Nexha, Albenc | Lay, Makara | Niebuur, Bart-Jan | Kraus, Tobias
Advanced Engineering Materials , 2025, xxx (xxx), xxx.
https://onlinelibrary.wiley.com/doi/full/10.1002/adem.202401813
Mekontso Ngaffo, Joelle A. | Farrukh, Usama | Trujillo, Sara | Del Campo, Aránzazu
Biomaterials Advances , 2025, xxx (xxx), xxx.
https://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S2772950825000093?via%3Dihub
Niu, Liang | Liu, Zhou | Yu, Ding | Presser, Volker | Chen, Ming | Feng, Guang
Physical Chemistry Chemical Physics , 2025, xxx (xxx), xxx.
https://pubs.rsc.org/en/content/articlelanding/2025/cp/d4cp02487g
Desai, Krupansh | Sankaran, Shrikrishnan | Del Campo, Aránzazu | Trujillo, Sara
Materials Today Bio , 2025, 30 101437.
https://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S2590006424004988
Bayerlein, Bernd | Waitelonis, Jörg | Birkholz, Henk | Jung, Matthias | Schilling, Markus | Hartrott, Philipp v. | Bruns, Marian | Schaarschmidt, Jörg | Beilke, Kristian | Mutz, Marcel | Nebel, Vincent | Königer, Veit | Beran, Lisa | Kraus, Tobias | Vyas, Akhilesh | Vogt, Lars | Blum, Moritz | Ell, Basil | Ya-Fan Chen | Waurischk, Tina | Thomas, Akhil | Riza, Ali | Durmaz, Sahr Ben Hassine | Fresemann, Carina | Dziwis, Gordian | Nasrabadi, Hossein Beygi | Hanke Thomas | Telong, Melissa | Pirskawetz, Stephan | Kamal, Mohamed | Bjarsch, Thomas | Pähler, Ursula | Hofmann, Peter | Leemhuis, Mena | Özcep, Özgür L. | Meyer, Lars-Peter | Skrotzki, Birgit | Neugebauer, Jörg | Wenzel, Wolfgang | Sack, Harald | Eberl, Chris | Dolabella Portella, Pedro | Hickel, Tilmann | Mädler, Lutz | Gumbsch, Peter
Advanced Engineering Materials , 2025, xxx (xxx), xxx.
https://onlinelibrary.wiley.com/doi/10.1002/adem.202401092?af=R
Tiganescu, Eduard | Safinazlou, Shahrzad | Abdin, Ahmad Yaman | Lilischkis, Rainer | Schäfer, Karl-Herbert | Fink-Straube, Claudia | Nasim, Muhammad Jawad | Jacob, Claus
Materials , 2024, 17 (23), 5733.
Thömmes, Anna-Lena | Büttner, Thomas | Morgenstern, Bernd | Janka, Oliver | Kickelbick, Guido | Niebuur, Bart-jan | Kraus, Tobias | Gallei, Markus | Scheschkewitz, David
Angewandte Chemie , 2024, 136 (51), e202415103.
https://onlinelibrary.wiley.com/doi/10.1002/ange.202415103
Senol Gungor, Ayca | von Mentlen, Jean-Marc | Ruthes, Jean G. A. | García-Soriano, Francisco | Drvaric Talian, Sara | Presser, Volker | Porcar, Lionel | Vizintin, Alen | Wood, Vanessa | Prehal, Christian
ACS Applied Materials & Interfaces , 2024, 16 (49), 67651–67661.
https://pubs.acs.org/doi/10.1021/acsami.4c13183
Milos, Frano | Del Campo, Aránzazu
Advanced Materials Interfaces , 2024, 11 (34), 2400404.
https://onlinelibrary.wiley.com/doi/10.1002/admi.202400404
Kafrashian, Zahra | Brück, Stefan | Rogin, Peter | Usama Bin Farrukh, Hafiz Syed | Pearson, Samuel | Del Campo, Aránzazu
Advanced Materials , 2024, xxx (xxx), xxx.
https://onlinelibrary.wiley.com/doi/10.1002/adma.202309166