CISCEM 2016

CISCEM 2016

Experten aus der ganzen Welt treffen sich am 11. und 12. Oktober zur CISCEM 2016 – 3rd International Conference on In-situ and Correlative Electron Microscopy.
Biologen, Materialwissenschaftler, Geologen, Chemiker und Physiker diskutieren in Saarbrücken die zukünftige Ausrichtung der Elektronenmikroskopie. U.a. geht es dabei um die nanoskalige Untersuchung von biologischen Proben und funktionellen Materialien unter realen oder realitätsnahen Bedingungen, z. B. in gasförmiger Umgebung, bei hohen Temperaturen oder in Flüssigkeit.
Eines der Kernthemen wird sein, wie dynamische Prozesse untersucht werden können, indem man die zeitliche Dimension in die Elektronenmikroskopie mit einbezieht und gleichzeitig die Auswirkungen des Elektronenstrahls berücksichtigt. Daneben ist die CISCEM 2016 auch offen für andere In-situ-Techniken, wie z. B. die Röntgen-, Nahfeld- oder Rastersondenmikroskopie. Die breite Fächerung wird anregende Diskussionen über multiskalige und korrelative Ansätze ermöglichen.

Weitere Informationen

www.ciscem2016.de